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Nexsa X 射线光电子能谱仪

产品特点

    标准化功能催生强大性能: 

    ·  绝缘体分析

    ·  高性能XPS性能

    ·  深度剖析

    ·  多技术联合

    ·  双模式离子源,使深度剖析功能得到扩展

    ·  用于 ARXPS 测量的倾斜模块

    ·  用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

    ·  小束斑分析

    可选的升级:可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行

    ·  ISS:离子散射谱,分析材料最表面1-2原子层元素信息,通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

    ·  UPS:紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

    ·  拉曼:拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

    ·  REELS:反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息

     

    SnapMap
     

    借助 SnapMap 的光学视图,聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域,同时生成完全聚焦的 XPS 图像,以进一步设置您的实验。

     

    1.X 射线照射样品上的一个小区域。

    2.收集来自这一小区域的光电子并将其收集于分析仪

    3.随着样品台的移动,不断收集元素图谱

    4.在整个数据采集过程中监测样品台位置,这些位置的图谱成像用来生成 SnapMap 

    应用领域 

    · 电池

    · 生物医药

    · 催化剂

    · 陶瓷

    · 玻璃涂层

    · 石墨烯

    · 金属和氧化物

    · 纳米材料

    · OLED

    · 聚合物

    · 半导体

    · 太阳能电池

    · 薄膜


    产品介绍

    Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时,保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术于一身,用户因此能够进行真正意义上的联合多技术分析,从而为微电子、超薄薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。

    材料分析和开发
    Nexsa 能谱仪具有分析灵活性,可最大限度地发现材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时,以可选多技术联合的形式提供灵活性,从而实现真正意义上多技术联合的分析检测和高通量。


    • 技术参数
    • 订购信息
    • 附加信息
    • 价格咨询

    · 型号:赛默飞Nexsa

    · 产地:英国

    · 品牌:赛默飞

    核心参数

    · 仪器种类:进口产品


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